Microscopio Electrónico de Barrido

Marca / Modelo Jeol, JSM-6390LV Aplicaciones El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un instrumento que permite la observación y caracterización superficial de materiales inorgánicos y orgánicos, entregando información morfológica del material analizado. Descripción La microscopia electrónica de barrido (SEM) es una de las más poderosas y versátiles herramientas para los científicos debido a su gran profundidad de campo (en comparación con microscopios de luz), alta resolución espacial (altas magnificaciones) y capacidades analíticas (energía dispersiva de rayos X o EDS y espectroscopia de dispersión de longitud de onda (WDS) para el análisis químico. Otra parte de su flexibilidad es la posibilidad de añadir una variedad de equipos de prueba eléctricos, mecánicos y químicos para hacer que el microscopio sea un “micro laboratorio” autosuficiente. El tamaño de la cámara de muestra del SEM, así como la posición global y el número de puertos para accesorios disponibles, dictan que detectores adicionales, subetapas, manipuladores y otros componentes pueden acoplarse en el SEM. La capacidad para múltiples detectores y analizadores hace que el SEM sea un instrumento multipropósito, que puede realizar una variedad de análisis en la misma muestra de una manera no destructiva.​