El análisis de difracción de rayos X es aplicable a todo material sólido pudiendo realizar el análisis de fases configuración (Theta-Theta), análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas. Se aplica en el control de calidad de materias primas y productos finales así como en la caracterización y desarrollo de nuevos materiales. El análisis es útil también en la determinación de transformaciones de fase, de parámetros estructurales y del grado de orden estructural, de detección de imperfecciones cristalinas. Los campos de aplicación incluyen la cristalografía, mineralogía, química inorgánica, química analítica, geología, metalúrgica, cerámica, farmacia, ciencia de materiales, etc.
Dr. Edilso Reguera Ruiz
Extensión: 67797
ereguerar@ipn.mx
Dr. José Manuel Ávila Santos
Extensión: 67753
jmavilas@ipn.mx
Extensión del laboratorio: 67797
Marca/Modelo D-8 Advance from Bruker Aplicaciones Análisis cualitativo y cuantitativo de fases Resolución y refinamiento de estructuras cristalinas utilizando recocido simulado y algoritmos de Rietveld, respectivamente. Estudio de transiciones estructurales en el rango de temperaturas 80 – 1000 K Estudios estructurales bajo condiciones de alta resolución; el patrón de rayos X se registra sólo con Ka1 Descripción El Laboratorio está configurado con un difractómetro D8 Advance de Bruker, una cámara de temperaturas para trabajar en el rango 80 – 1000 K, y utiliza un monocromador primario tipo Johanson para registrar el patrón de difracción utilizando solo Ka1 u otra longitud de onda, a voluntad.
INSTITUTO POLITÉCNICO NACIONAL
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